Zapytanie ofertowe

Produkt:

Imię:

e-mail:

Telefon:

Treść zapytania:

arrow

NEWSLETTER

Zapisz się do naszej listy mailingowej i bądź informowany o nowościach.

Usługi - Pomiary metrologiczne

Pomiary długości i kąta, odchyłki kształtu i położenia z wykorzystaniem współrzędnościowej maszyny pomiarowej Zeiss Accura II

Pomiary długości i kąta, odchyłki kształtu i położenia z wykorzystaniem współrzędnościowej maszyny pomiarowej Zeiss Accura II

Możliwości pomiarowe:

 

Zakres pomiarowy    1200 x 2400 x 1000 mm
Dokładność pomiaru    MPEE = (2.2 + L/300) µm, MPEP = 1,9 µm
Oprogramowanie    Calypso Geometry CNC, Curve Calypso CNC
 
entralna, aktywna, skaningowa głowica pomiarowa

 

Pomiar kół zębatych z wykorzystaniem specjalistycznej maszyny Wenzel LH2600 Hybrid

Pomiar kół zębatych z wykorzystaniem specjalistycznej maszyny Wenzel LH2600 Hybrid

Maszyna pomiarowa hybrydowa dedykowana do pomiaru kół zębatych walcowych, wielowypustów, kół stożkowych, ślimaków i ślimacznic na stole obrotowym, oraz do pomiarów współrzędnościowych 3D na stole granitowym.
 

Możliwości pomiarowe:

 

Średnica detalu   5 - 2600 mm
Średnica obrabianego między kłami    5 - 1300 mm
Średnica wewnętrzna    12 - 1800 mm
Moduł    w zakresie od 0,5 mm
Szerokość detalu    max 1100 mm
Odległość między kłami    300 - 1900 mm
Dokładność pomiaru według VDI / VDE 2612/2613    Grupa I

 

Określanie  składu chemicznego materiałów z wykorzystaniem spektrometru emisyjnego SPEKTROMAXx

Określanie składu chemicznego materiałów z wykorzystaniem spektrometru emisyjnego SPEKTROMAXx

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Pomiar twardości z wykorzystaniem twardościomierza Mitutoyo

Pomiar twardości z wykorzystaniem twardościomierza Mitutoyo

Pomiary bezstykowe za pomocą projektora pomiarowego ST360H firmy Schneider

Pomiary bezstykowe za pomocą projektora pomiarowego ST360H firmy Schneider

Możliwości pomiarowe:

 

zakres pomiarowy    X = 250 mm; Y = 150 mm,
powierzchnia   500 x 135 mm
przestawianie w pionie    Z = 100 mm
Niepewność pomiarowa 2D (X-Y) d    E1 = (2,5 + L/75) µm,

 

Pomiary chropowatości powierzchni z wykorzystaniem przyrządu MarSurf

Pomiary chropowatości powierzchni z wykorzystaniem przyrządu MarSurf

Pomiary i ocena konturu z wykorzystaniem stanowiska do pomiarów konturu MarSurf XC2

Pomiary i ocena konturu z wykorzystaniem stanowiska do pomiarów konturu MarSurf XC2

 

Pozostałe możliwości metrologiczne: